極品內(nèi)存檢測(cè)軟件——Memtest86使用說(shuō)明書

通常我們會(huì)覺得內(nèi)存出錯(cuò)損壞的幾率不大，并且認(rèn)為如果內(nèi)存壞了，那么它是不可能通過(guò)主板的開機(jī)自檢程序的。事實(shí)上這個(gè)自檢程序的功能很少，而且只是檢測(cè)容量速度而已，許多內(nèi)存出錯(cuò)的問(wèn)題并不能檢測(cè)出來(lái)。如果你在運(yùn)行程序時(shí)不時(shí)有某個(gè)程序莫名其妙地失去響應(yīng)或者打游戲時(shí)突然退出游戲；打開文件時(shí)偶爾提示文件損壞，但稍后打開又沒問(wèn)題……那你應(yīng)該考慮檢測(cè)一下你的內(nèi)存了。

一、軟件簡(jiǎn)介

Memtest86是一款免費(fèi)的內(nèi)存測(cè)試軟件，測(cè)試準(zhǔn)確度比較高，內(nèi)存的隱性問(wèn)題也能檢查出來(lái)!大家可以到http://www.memtest86.com/頁(yè)面下載它的最新3.0版本。

Memtest86是一款基于Linux核心的測(cè)試程序，所以它的安裝和使用和其它內(nèi)存測(cè)試軟件有些不同。將Memtest86程序下載解壓縮后，我們可以看到4個(gè)文件，其中Install.exe用來(lái)安裝Memtest86程序到軟盤。雙擊運(yùn)行這個(gè)程序，在彈出窗口中的“Enter Target diskette drive：”后輸入你的軟盤驅(qū)動(dòng)器的盤符，如a，然后回車。插入一張格式化過(guò)的軟盤，單擊回車開始安裝，這樣Memtest86就安裝到軟盤了。前面我們說(shuō)過(guò)Memtest86是基于Linux核心的，所以在Windows的資源管理器里我們看不到軟盤上的內(nèi)容（不要誤認(rèn)為軟盤里沒有內(nèi)容）。如果沒有軟驅(qū)，Memtest86的主頁(yè)有該軟件的ISO文件，可以直接刻錄到光盤，用光驅(qū)啟動(dòng)后進(jìn)行測(cè)試。

二、測(cè)試內(nèi)存

制作好軟盤后，我們用這張盤來(lái)啟動(dòng)電腦Memtest86會(huì)自動(dòng)開始測(cè)試內(nèi)存，其測(cè)試界面如圖1所示。在紅色顯示的“Memtest-86 v3.0”程序版本號(hào)下，我們可以看到當(dāng)前系統(tǒng)所采用的處理器型號(hào)和頻率，以及CPU的一級(jí)緩存和二級(jí)緩存的大小及速度，當(dāng)然也包括測(cè)試的主角——系統(tǒng)物理內(nèi)存的容量和速度。最后顯示的是主板所采用的芯片組類型。通過(guò)這些信息我們可以對(duì)系統(tǒng)的主要配置有個(gè)大致的了解。在系統(tǒng)信息的右側(cè)顯示的是測(cè)試的進(jìn)度，“Pass”顯示的是主測(cè)試進(jìn)程完成進(jìn)度，“Test”顯示的是當(dāng)前測(cè)試項(xiàng)目的完成進(jìn)度?！?/span>Test #1”顯示的是目前的測(cè)試項(xiàng)目。

下方的“WallTime”顯示測(cè)試已經(jīng)耗費(fèi)的時(shí)間，在這一排數(shù)據(jù)中“ECC”一欄中，顯示的是當(dāng)前內(nèi)存是否支持打開ECC校驗(yàn)功能，“TEST”顯示的是測(cè)試的模式，有“標(biāo)準(zhǔn)”和“完全”模式可供選擇?！癙ass”顯示的是內(nèi)存測(cè)試所完成的次數(shù)，Memtest86的測(cè)試是無(wú)限制循環(huán)的，除非你結(jié)束測(cè)試程序，否則它將一直測(cè)試下去。另外Memtest86的測(cè)試比較耗費(fèi)時(shí)間，標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)試模式跑一遍大概需要個(gè)把小時(shí)，如果是完全測(cè)試的話則需要幾個(gè)小時(shí)（和內(nèi)存容量有關(guān)）。

要進(jìn)行完全測(cè)試，我們可以單擊“C”鍵打開Memtest86的設(shè)置菜單，接著單擊數(shù)字鍵“2”選擇“Test selction”選項(xiàng)（注意從主鍵盤輸入數(shù)字），再單擊數(shù)字鍵“3”選擇“All Test”選項(xiàng)打開完全測(cè)試模式（圖2）。利用這個(gè)設(shè)置菜單，我們還可以進(jìn)行更多的設(shè)置，比如設(shè)置測(cè)試的Cache大小、重新開始測(cè)試等等。

開始測(cè)試后，主要的內(nèi)存突發(fā)問(wèn)題（比如“死亡”位）將在幾秒鐘內(nèi)檢測(cè)出來(lái)，如果是由特定位模式觸發(fā)的故障，則需要長(zhǎng)時(shí)間測(cè)試才能檢測(cè)出來(lái)，對(duì)此需要有耐心。Memtest86一檢測(cè)到缺陷位，就會(huì)在屏幕底部顯示一條出錯(cuò)消息，但是測(cè)試還將繼續(xù)下去。如果完成幾遍測(cè)試后，沒有任何錯(cuò)誤信息，那么我們可以確定內(nèi)存是穩(wěn)定可靠的。如果檢測(cè)出現(xiàn)問(wèn)題，你可以試著降低BIOS中內(nèi)存參數(shù)的選項(xiàng)值，如將內(nèi)存CAS延遲時(shí)間設(shè)置為3等，再進(jìn)行測(cè)試，這樣可能會(huì)避免錯(cuò)誤的出現(xiàn)，讓內(nèi)存運(yùn)行時(shí)保持穩(wěn)定。

最后值得注意的是如果你的系統(tǒng)有多根內(nèi)存條（相信現(xiàn)在大家的機(jī)器里都插著幾根吧），那么就需要單獨(dú)測(cè)試每一根內(nèi)存，這樣才能分清到底是哪根內(nèi)存出錯(cuò)。其實(shí)Memtest86測(cè)試內(nèi)存并不僅僅局限在測(cè)試內(nèi)存的好壞上，用它的完全測(cè)試模式跑幾遍，還能檢測(cè)內(nèi)存和系統(tǒng)的穩(wěn)定性。所以如果你的系統(tǒng)經(jīng)常遇到本文開頭所述的那些問(wèn)題，那么不妨用Memtest86測(cè)試一下你的內(nèi)存。